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영어

The increasing usage of mobile devices such as SmartPhone, TabletPC, and Ultrabook, the demand for NAND-type Flash Memory is also constantly growing. Therefore, high speed and miniaturization able, NAND-type Flash Memory’s research for diagnosis of possible malfunction is very important. The Flash Memory is divided into NOR-type Flash Memory, and NAND-type Flash Memory. A lot of study such as Test Algorithm, BISR(Built-In Self Repair) Algorithm and Diagnostic Algorithm, etc. has been progressed in NOR-type Flash Memory. However, it is very difficult to detect for NAND-type Flash Memory’s fault, with the former studies of algorithms for NOR-type Flash Memory. In this paper, an efficient and accurate problem diagnosable algorithm that can identify, the type of possible failure of the cell in NAND-type Flash Memory, is proposed. So it allows error diagnosing for NAND-type Flash Memory.

한국어

스마트폰, 태블릿 PC, 울트라북등 휴대기기 사용의 증가로 인해 NAND-형 Flash Memory의 수요도 지속적으로 증가하고 있다. 그렇기 때문에 NAND-형 Flash Memory에서 발생할 수 있는 고장을 진단하기 위한 알고리즘 연 구가 매우 중요하다. Flash Memory는 셀 배열구조에 따라서 NOR-형 Flash Memory와 NAND-형 Flash Memory로 구분이 된다. NOR-형 Flash Memory는 다양한 테스트 알고리즘과 BIRA(Built-in Redundancy Analysis)알고리즘, 진단 알고리즘 등 다양한 알고리즘 연구가 진행되어 왔다. 그러나 NOR-형 Flash Memory에 서 연구되었던 이러한 알고리즘들을 이용하여 NAND-형 Flash Memory를 위한 고장을 확인하는 것이 매우 어렵 다. 따라서 본 논문에서는 NAND-형 Flash Memory에서 발생할 수 있는 고장 확인이 가능한 정확하고 효율적인 진단 알고리즘을 제안한다. 그래서 NAND-형 Flash Memory를 위한 고장 진단을 가능하게 한다.