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제7분과 : 측정 및 분석

X-선 영상기기용 섬광체의 Swank factor 측정 시스템 개발

목차

서 론
 재료 및 방법
 결과 및 고찰
 결 론

저자정보

  • 김영주 (주)나노포커스레이
  • 김현덕 한국과학기술원
  • 조규성 한국과학기술원
  • 김종열 한국과학기술원
  • 이경수 삼성모바일디스플레이(주)
  • 강보선 건양대학교

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

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