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Session 5 : 품질경영( I ), 좌장 : 최성운(경원대학교)

OLED소자의 고온에서의 가속 수명에 관한 연구

원문정보

A Study on OLED's lifetime at high temperature

최영태, 조재립

피인용수 : 0(자료제공 : 네이버학술정보)

초록

영어

To application Arrhenius model for OLED's lifetime, it's needed in high temperature test. Because OLED's character is changed in high temperature, it's important to find limit temperature. We found out 40℃ is proper temperature by result of tests. But that is not enough acceleration to apply in practical affairs. We find new stress to get a bigger accelerated constant.

목차

Abstract
 1. 서론
 2. 가속수명시험 이론
  2.1. 가속수명 시험의 종류
  2.2. Accelerated Degradation
  2.3. 가속수명-스트레스 모형
  2.4. 가속성과 가속계수
 3. OLED 소자의 열화 스트레스
  3.1. Lifetime
  3.2. degradation
  3.3. 가속스트레스 발굴
 4. 실험 및 결과
 5. 수명 예측 및 가속모형 추정
 6. 결론 및 과제
 7. 참고문헌

저자정보

  • 최영태 Young-Tae Choi. 삼성 SDI
  • 조재립 Jai-Rip Cho. 경희대학교 산업공학과

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

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