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온톨로지 기법을 이용한 RFID 장비 성능 측정체계 및 방법

원문정보

Study of Performance Test Methods for RFID Devices Using Ontology Concept

권현수, 장윤석

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목차

Abstract
 I. 서론
 II. 관련 연구
  1. RFID 장비성능 관련연구
  2. 온톨로지의 개요
 III. RFID에서의 온톨로지의 개요
  1. RFID에서의 온톨로지의 개요
  2. 본 연구를 위한 Ontology 모델링
 IV. 온톨로지 기법을 이용한 RFID장비성능 측정 체계 및 방법
  1. RFID장비의 온톨로지
  2. RFID장비시험의 온톨로지
 IV. 결론
 참고문헌

저자정보

  • 권현수 Hyun Soo Kwon. 아시아나 IDT
  • 장윤석 Yoon Seok Chang. 한국항공대학교 항공교통물류학부

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

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