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본 연구는 기존의 계수치 관리도가 가지는 장점을 이용하고, 동시에 단점을 제거하는 설계 방법을 제공함으로써 공정의 상태변화에 민감한 관리도를 제시하는데 그 목적을 두고 있다. 특히 품질경영의 목적인 지속적인 개선의 일환으로 항상 공정을 모니터링하여 개선된 공정모수에 대한 표준화 단계 및 바람직한 공정모수 설정에 대한 확인 단계에 본 연구에서 제시한 관리도가 사용 될 수 있다. 특히 이상상태를 감지하는데 보다 효과적인 VSI 기법을 계수치 관리도에 활용하는데 그 중점을 두고 있다. 관리도 모수를 결정하기 위한 설계방법으로는 통계적 설계방법을 채택한다. 또한, 본 연구의 주요관점은 계수치 관리도로써 공정 개선에 대한 식별신호와 이상상태에 대한 신호를 주는 기능을 함께 가지는 관리도를 설계하는 것이다. 이러한 설계방법을 위하여 근사 비편향 ATS 특성을 가지는 계수치 관리도의 최적 설계 방법을 제시하고자 하며 기존의 방법과 수행도 측면에서 수치실험을 통해 비교･평가함으로써 제시된 설계방법의 우수성을 증명하였다.
The analyses and results in this research differ from previous studies of the SPC problem in five ways. First, the results of the factorial experiment obtained by various parameter circumstances show that the VSI control chart using nearly unbiased ATS design provides the smallest decreasing rate in ATS other charts for all experimental cases. Second, we illustrate that the control limits on the VSI control chart using Shewhart method cannot satisfy false alarms when control parameter are small. Third, we represent that a process change is rapidly in detected when short sampling interval d_1 approximate to d_min . In addition, the change of the sampling interval may not influence in a set of control chart parameters. Fourth, we demonstrate that ATS curve has large bias establishing the parameter of VSI control chart using the Shewhart method. However, the proposed design method for the development of a control chart robust of sample size and control parameter size. Finally, we present an optimization model that may efficiently provide optimal ATS values for process parameters in a steady state, and that may efficiently establish parameters of correct control char by supplying an optimization algorithm.
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average time-to signal, average run length, variable sampling interval, process shift.
