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본 연구는 기존의 계수치 관리도가 가지는 장점을 이용하고, 동시에 단점을 제거하는 설계 방법을 제공함으로써 공정의 상태변화에 민감한 관리도를 제시하는데 그 목적을 두고 있다. 특히 품질경영의 목적인 지속적인 개선의 일환으로 항상 공정을 모니터하여 개선된 공정모수에 대한 표준화 단계 및 바람직한 공정모수 설정에 대한 확인 단계에 본 연구에서 제시한 관리도가 사용 될 수 있다. 본 연구에서는 이상상태를 감지하는데 보다 효과적인 VSI 기법을 계수치 관리도에 활용하는데 그 중점을 두고 있다. 관리도 모수를 결정하기 위한 설계방법으로는 통계적 설계방법을 채택한다. 또한, 본 연구의 주요관점은 계수치 관리도로써 공정 개선에 대한 식별신호와 이상상태에 대한 신호를 주는 기능을 함께 가지는 관리도를 설계하는 것이다. 이러한 설계방법을 위하여 근사 비편향 ATS 특성을 가지는 관리도의 설계방법을 제시한다. 또한, 본 연구에서 제시한 설계방법과 기존방법과의 수행도 측면에서 비교․평가함으로써 제시된 설계방법의 우수성을 증명하고자 한다.
The manufacturing process often requires an economical solution method associated with on-line SPC. Based on this awareness, Shewhart introduced a systematic method for applying the 3-sigma principle to control limits on SPC, which has become known as the attribute control chart based on the concept of building quality into a control process. The proposed design method minimizes bias, i.e., an average time to signal for the shift of process from the target value (ATS) curve, as well as it applies a VSI method to an attribute control chart for detecting a process shift efficiently. The results of the factorial experiment obtained by various parameter circumstances show that the VSI control chart using nearly unbiased ATS design provides the smallest decreasing rate in ATS among other charts for all experimental cases. We present an optimization model that may efficiently provide optimal ATS values for process parameters in a steady state, and that may efficiently establish parameter correct control chart by supplying an optimization algorithm.
